顯微鏡方法變得越來越強大。 相關光學和電子顯微鏡（CLEM）是一種成像技術，它允許您在捕捉納米級結構細節的同時對樣本進行熒光標記。真是令人難以置信。 這樣做需要對光學顯微鏡和電子顯微鏡圖像數據的單獨堆棧進行配準——這是一項困難的任務。 配準通常需要數小時的手動工作和專家註釋。 一個研究小組剛剛發佈了一種算法，可以在大約2分鐘內完成這一過程。 全部開源，作為@napari_imaging插件發佈。（我覺得OSS成像社區在大多數科學軟件中獨特地有條理。） 這似乎非常棒，可以使熒光標記的電子顯微鏡的訪問更加民主化，並顯著減少數據採集時間。一些美麗的圖像！